內(nèi)容簡介：

　　本書是工程應(yīng)用類書，主要介紹電子元器件失效分析技術(shù)。從失效分析概論、失效分析技術(shù)、失效分析方法和程序以及失效預(yù)防幾個(gè)方面的內(nèi)容，使讀者全面系統(tǒng)地掌握失效分析方面的基礎(chǔ)理論、基本概念，技術(shù)和設(shè)備、方法和流程，指導(dǎo)開展相關(guān)的失效分析工作，并了解失效預(yù)防的一些基本方法和手段。

　　作者簡介：

　　恩云飛，工業(yè)和信息化部電子第五研究所研究員，中國電子學(xué)會可靠性分會委員，中國電子學(xué)會真空電子分會委員，中國電子學(xué)會第八屆理事會青年與志愿者工作委員會委員，廣東省電子學(xué)會理事，《失效分析與預(yù)防》編委會委員，長期從事電子元器件可靠性工作，在電子元器件可靠性物理、評價(jià)及試驗(yàn)方法等方面取得顯著研究成果，先后獲省部級科技獎勵10項(xiàng)，發(fā)表學(xué)術(shù)40余篇，申請及授權(quán)國家發(fā)明專利10余項(xiàng)。